Técnicas probabilísticas para análise de yield em nível elétrico usando propagação de erros e derivadas numéricas

Lucas Brusamarello, Roberto da Silva, Gilson I. Wirth, Ricardo Augusto da Luz Reis. Técnicas probabilísticas para análise de yield em nível elétrico usando propagação de erros e derivadas numéricas. RITA, 14(2):69-89, 2007. [doi]

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  journal = {RITA},
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