Christoph Busch, Martin Schmerer. Ein Verfahren zur Texturanalyse basierend auf Multiplen Waveletbasen. In Gerhard Sagerer, Stefan Posch, Franz Kummert, editors, Mustererkennung 1995, 17. DAGM-Symposium, Bielefeld, 13.-15. September 1995, Proceedings. Informatik Aktuell, pages 562-569, Springer, 1995.
Abstract is missing.