Ein Verfahren zur Texturanalyse basierend auf Multiplen Waveletbasen

Christoph Busch, Martin Schmerer. Ein Verfahren zur Texturanalyse basierend auf Multiplen Waveletbasen. In Gerhard Sagerer, Stefan Posch, Franz Kummert, editors, Mustererkennung 1995, 17. DAGM-Symposium, Bielefeld, 13.-15. September 1995, Proceedings. Informatik Aktuell, pages 562-569, Springer, 1995.

Abstract

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