PICASYS - Ein Bildanalysesystem zur Identifikation von Leiterplatinen

Klaus-Uwe Höffgen, M. Goerke, Hartmut Noltemeier. PICASYS - Ein Bildanalysesystem zur Identifikation von Leiterplatinen. In Hans Burkhardt, Karl Heinz Höhne, Bernd Neumann, editors, Mustererkennung 1989, 11. DAGM-Symposium, Hamburg, 2.-4. Oktober 1989, Proceedings. Volume 219 of Informatik-Fachberichte, pages 391-395, Springer, 1989.

Abstract

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