Mauro Ciappa, Paolo Cova, Francesco Iannuzzo, Gaudenzio Meneghesso. Editorial. Microelectronics Reliability, 52(9-10):1751-1752, 2012. [doi]
@article{CiappaCIM12, title = {Editorial}, author = {Mauro Ciappa and Paolo Cova and Francesco Iannuzzo and Gaudenzio Meneghesso}, year = {2012}, doi = {10.1016/j.microrel.2012.09.004}, url = {http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2012.09.004}, researchr = {https://researchr.org/publication/CiappaCIM12}, cites = {0}, citedby = {0}, journal = {Microelectronics Reliability}, volume = {52}, number = {9-10}, pages = {1751-1752}, }