Thi Thanh Hai, Augustin Lux. Extraction de Caractéristiques Locales: Crêtes et Pics. In Actes de la Première Conférence Internationale RIVF 03 Rencontres en Informatique Vietnam-France, RIVF 03, Hanoi, Vietnam, 10-13 Février, 2003. pages 203-211, Editions Suger, Paris, 2003. [doi]
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