Peter Kuner, Joachim Kreich, Gerd Maderlechner. Fehlertolerante Mustererkennung in Linienbildern durch Teilgraphenisomorphie und diskriminierende Graphen. In Heinrich Niemann, editor, Mustererkennung 1985, DAGM-Symposium, Erlangen, 24.-26. September 1985, Proceedings. Volume 107 of Informatik-Fachberichte, pages 37-41, Springer, 1985.
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