J. Steininger, S. Kuiper, S. Ito, Georg Schitter. Schnelle Rasterkraftmikroskopie durch moderne Regelungstechnik und mechatronische Systemintegration. Elektrotechnik und Informationstechnik, 129(1):28-33, 2012. [doi]
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journal = {Elektrotechnik und Informationstechnik},
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