Wiederverwendbarkeit und Management von modellbasierten X-in-the-Loop Tests mit TTCN-3 Embedded

Jürgen Großmann, Hans-Werner Wiesbrock. Wiederverwendbarkeit und Management von modellbasierten X-in-the-Loop Tests mit TTCN-3 Embedded. Softwaretechnik-Trends, 30(2), 2010. [doi]

Abstract

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