Testfreundlichkeit und Fehlertoleranz in VLSI-Systemen / Testability and Fault Tolerance in VLSI-Systems

Karl-Erwin Großpietsch. Testfreundlichkeit und Fehlertoleranz in VLSI-Systemen / Testability and Fault Tolerance in VLSI-Systems. it - Information Technology, 30(4):247-253, 1988. [doi]

Abstract

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