W. Höbel, Siegfried J. Pöppl, M. Keicher. Merkalsextraktion und Dimensionsreduktion zur Verbesserung der Trennbarkeit von Musterklassen. In Jörgen P. Foith, editor, Angewandte Szenenanalyse, DAGM Symposium, Karlsruhe, 10.-12 Oktober 1979, Proceedings. Volume 20 of Informatik-Fachberichte, pages 156-166, Springer, 1979.
Abstract is missing.