Fault Models and Test Algorithms for Nanoscale Technologies (Fehlermodelle und Testalgorithmen für Nanoscale-Technologien)

Ilia Polian, Bernd Becker. Fault Models and Test Algorithms for Nanoscale Technologies (Fehlermodelle und Testalgorithmen für Nanoscale-Technologien). it - Information Technology, 52(4):189-194, 2010. [doi]

Abstract

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