Hagen Sämrow, Claas Cornelius, Philipp Gorski, Jakob Salzmann, Dirk Timmermann. Effiziente Simulation von Gateoxiddefekten auf Gatterebene mit Transistorlevel-Genauigkeit. In Jens Brandt, Klaus Schneider, editors, Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen (MBMV), Kaiserslautern, Germany, March 5-7, 2012. pages 157-168, Verlag Dr. Kovac, 2012.
@inproceedings{SamrowCGST12, title = {Effiziente Simulation von Gateoxiddefekten auf Gatterebene mit Transistorlevel-Genauigkeit}, author = {Hagen Sämrow and Claas Cornelius and Philipp Gorski and Jakob Salzmann and Dirk Timmermann}, year = {2012}, researchr = {https://researchr.org/publication/SamrowCGST12}, cites = {0}, citedby = {0}, pages = {157-168}, booktitle = {Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen (MBMV), Kaiserslautern, Germany, March 5-7, 2012}, editor = {Jens Brandt and Klaus Schneider}, publisher = {Verlag Dr. Kovac}, }