Hagen Sämrow, Claas Cornelius, Philipp Gorski, Jakob Salzmann, Dirk Timmermann. Effiziente Simulation von Gateoxiddefekten auf Gatterebene mit Transistorlevel-Genauigkeit. In Jens Brandt, Klaus Schneider, editors, Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen (MBMV), Kaiserslautern, Germany, March 5-7, 2012. pages 157-168, Verlag Dr. Kovac, 2012.
Abstract is missing.