C. Zeitler, M. Eberius, Oliver Ziermann, Dietrich Meyer-Ebrecht. Automatisierung der Erkennung von Schadstellen auf infizierten Tabakpflanzen. In Gerald Sommer, Norbert Krüger, Christian Perwass, editors, Mustererkennung 2000, 22. DAGM-Symposium, Kiel, 13.-15. September 2000, Proceedings. Informatik Aktuell, pages 171-178, Springer, 2000.
Abstract is missing.