Généralisation des méthodes de scan pour le test des circuits intégrés complexes et application à des circuits critiques en vitesse. (Generalization of the scan methods for the test of complex integrated circuits and application to high speed circuits)

Joseph Bulone. Généralisation des méthodes de scan pour le test des circuits intégrés complexes et application à des circuits critiques en vitesse. (Generalization of the scan methods for the test of complex integrated circuits and application to high speed circuits). PhD thesis, Grenoble Institute of Technology, France, 1994. [doi]