Ein verallgemeinerter Total Least Squares-Ansatz zur Schätzung der Epipolargeometrie

Matthias Mühlich, Rudolf Mester. Ein verallgemeinerter Total Least Squares-Ansatz zur Schätzung der Epipolargeometrie. In Paul Levi, Rolf-Jürgen Ahlers, Franz May, Michael Schanz, editors, Mustererkennung 1998, 20. DAGM-Symposium, Stuttgart, 29. September - 1. Oktober 1998, Proceedings. Informatik Aktuell, pages 349-356, Springer, 1998.

Abstract

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