Marcus Schreckenberg, G. von Dziembowski, Dietrich Meyer-Ebrecht. Erkennung deformierbarer Konturen und Oberflächen in verrauschten Bilddaten durch Einsatz modellgekoppelter anisotroper Merkmalsextraktoren. In Paul Levi, Rolf-Jürgen Ahlers, Franz May, Michael Schanz, editors, Mustererkennung 1998, 20. DAGM-Symposium, Stuttgart, 29. September - 1. Oktober 1998, Proceedings. Informatik Aktuell, pages 219-226, Springer, 1998.
@inproceedings{SchreckenbergDM98,
title = {Erkennung deformierbarer Konturen und Oberflächen in verrauschten Bilddaten durch Einsatz modellgekoppelter anisotroper Merkmalsextraktoren},
author = {Marcus Schreckenberg and G. von Dziembowski and Dietrich Meyer-Ebrecht},
year = {1998},
researchr = {https://researchr.org/publication/SchreckenbergDM98},
cites = {0},
citedby = {0},
pages = {219-226},
booktitle = {Mustererkennung 1998, 20. DAGM-Symposium, Stuttgart, 29. September - 1. Oktober 1998, Proceedings},
editor = {Paul Levi and Rolf-Jürgen Ahlers and Franz May and Michael Schanz},
series = {Informatik Aktuell},
publisher = {Springer},
isbn = {3-540-64935-2},
}